Le livre est actuellement en rupture de stock
En savoir plus sur le livre
This book explores the growing interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity, driven by advancements in the semiconductor industry and material research. It focuses on the significance of thin layers in optoelectronics, their interface quality, and the unique properties of thin metallic layers, including colossal magnetoresistance.
Achat du livre
High-Resolution X-Ray Scattering, Tilo Baumbach, Ullrich Pietsch, Václav Holý
- Langue
- Année de publication
- 2011
- product-detail.submit-box.info.binding
- (souple)
Nous vous informerons par e-mail dès que nous l’aurons retrouvé.
Modes de paiement
Personne n'a encore évalué .