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Korrelation zwischen Mikrostruktur und elektrischem Widerstand in flüssigphasengesintertem Siliciumcarbid untersucht mittels Transmissionselektronenmikroskopie

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Korrelation zwischen Mikrostruktur und elektrischem Widerstand in flüssigphasengesintertem Siliciumcarbid untersucht mittels Transmissionselektronenmikroskopie, Frank Siegelin

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2003
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