Walter E. Proebster Livres

Das Buch behandelt Eingabemethoden wie Tastaturen und Sensoren sowie Ausgabegeräte wie Drucker und Bildschirme. Es thematisiert auch externe Speichertechnologien. Enthalten sind 189 Abbildungen und das Buch umfasst 262 Seiten.

Rechnernetze sind ein zentrales Thema in der Informatik-Ausbildung und gewinnen immer mehr an Bedeutung. Dieses Lehrbuch, das aus Vorlesungen an der TU München entstanden ist, bietet einen fundierten und gleichzeitig knappen und übersichtlichen Überblick über Technik, Protokolle, Systeme und Anwendungen von Rechnernetzen. Zur Darstellung der Technik und der Strukturen von Rechnernetzen orientiert sich der Aufbau des Buches an den Schichten des ISO/OSI-Referenzmodelles. Es geht auf Techniken und Protokolle des Internets ein und behandelt die Themen Netzmanagement, ISDN und Hochleistungsnetze (ATM). Dieses Buch eignet sich ausgezeichnet als Grundlage für Vorlesungen sowie zur Vorbereitung auf Prüfungen. Zu jedem Kapitel gibt es eine Auswahl von Prüfungsfragen.

The content covers a comprehensive range of topics related to digital memories and storage technologies. It begins with a keynote address discussing the evolution of digital memories, followed by an exploration of electromagnetic storage and magnetic data recording methods. The text delves into electromechanical mass storage units, including disk files and tape libraries with automatic reel transport. It also examines semiconductor memories, detailing fabrication technology and the physical fundamentals of components used, including LSI semiconductor memories and a high-performance low-power 2048-bit memory chip in MOSFET technology. Further sections focus on readout methods and circuits for dynamic charge-storage elements, monolithic memories, and CCD memories, alongside BEAMOS technology and applications. The annotation also addresses various types of read-only memories, including those with magnetic components and integrated circuits, as well as electrically alterable MOS-ROMs, magnetic bubble memories, and ferromagnetic domain memories. Additionally, it discusses optical memories, their materials, systems, and reliability, emphasizing the effects of defects on yield and integration in large-scale integrated semiconductor memories. The text concludes with insights into memory/storage systems, access methods, associative memories, increased chip capacity, and the performance of small cache memories in multiprocessor mini